時域網絡分析儀可測量多種波束的時序特性，具體（tǐ）如下：
- 傳輸線係統中的波束：在測量傳輸線係統的寬帶響應特征時，時域分析（xī）技術能將每個不連續性（xìng）的影響（xiǎng）顯示為時間或距離函數（shù），從而獲（huò）取（qǔ）更豐富（fù）的（de）信息。例如在PCB特性（xìng）阻抗測量中，TDR（時域反射計）測量PCB特性阻抗是PCB行業遵循、全球認可的測試方（fāng）法，可顯示被測PCB的阻抗隨（suí）長度的變化，任何因阻抗失配產生的電壓失真都會被TDR以特性（xìng）阻抗的形式反映出來，這有助於了解（jiě）波束（shù）在傳輸線中的傳輸情況（kuàng），包括波束到達不同位置的時間等時序特性。
- 高（gāo）速互連器件（jiàn）中的波束：隨著數字係統處（chù）理信號速度的增加，互連器件的信號完整性對係統性能影響巨大。時域網絡（luò）分析儀的TDR測量（liàng）功能是高速互連器件測量（liàng）分析（xī）的綜合解決（jué）方案（àn），可測量阻抗（kàng）、S參數和眼圖等。例如，可通（tōng）過分析仿真的眼圖深入了解高速（sù）互連器件的性能，使（shǐ）用虛擬碼型發生器產生符合行業標準或用戶定製的碼型，預定義（yì）眼圖模板對各種（zhǒng）高速串行器件的規範標準進行（háng）測量，從而得到波束（shù）在高速互連器件中的時序特性，如信號的上升時間、下降時間、抖動等。
- 實際（jì）工作條件下的有源器件中的波束：在實際工作條件下，如數字係統（tǒng）比（bǐ）特率提高時，元（yuán）器件之間的（de）阻抗失配會影響（xiǎng）係統性能。Hot TDR測試可在給被測有源器件加電使其正常（cháng）工作（zuò）的（de）條件下（xià）測量此時TDR和回波損耗（hào）的值，進而分析波束在有（yǒu）源器件中的時序特性。
